Markeren:
PCBA-testapparatuur voor 0
, 6-6 mm
, 2D-AOI PCBA-testapparatuur
Model: |
SI-1020 |
PCB-transfergrootte: |
50 mm*50 mm-510 mm*460 mm |
PCB-inspectiegrootte: |
50 mm*50 mm-510 mm*460 mm |
PCB-diktebereik: |
0.66mm |
Maximaal PCB-gewicht: |
10 kg |
Hoogte van het onderdeel: |
Boven 25 mm;onder 40 mm |
PCB-overdrachtsmethode: |
Gordelconveyor |
Rand breedte: |
3 mm |
Camerapixel: |
Kleurcamera, cel:2.5 mm |
Recogniton-nauwkeurigheid: |
10um |
Lichtbronoplossing: |
Vierkleurige integrale ringlichtbron: Wit+Rood Groen Bue |
Optische lens: |
met een diameter van niet meer dan 20 mm,0.256x Vergroting |
Fotocamera zichtveld: |
26MP@10um:50mm*50mm |
Scansnelheid: |
0.3 sec/FOV |
Inspectie van onderdelen: |
Vermist, Verkeerd, Verkeerd geplaatst, Staand, Polar Reverse |
Inspectie van de soldeer: |
Multi-soldeer, minder soldeer, verbonden soldeer, valse soldeer |
Componentbibliotheek: |
NA |
Bijzondere eigenschap: |
Een-toets programmeren |
Werkwijze van het apparaat: |
Standaard SMEMA voor- en achtercommunicatiepoort |
Voor- en achterste aanlegdocking: |
880 mm tot 920 mm |
Communicatieprotocol voor voor- en achterinrichting: |
Een-toets programmeren |
Opslaggeheugen: |
64g |
* Sterke generalisatie, hoog detectiegraad, laag vals alarmeringspercentage
* End-to-end cloudconnectiviteit, ondersteuning voor remote management
* Ondersteuning van het MES-systeem, ondersteuning van offline werking, ondersteuning van online non-stop debugging.
* 0 ontbrekend rapport, 40+ geavanceerde A1-modelstrategie, efficiënte en nauwkeurige detectie, vals detecteringspercentage < 1%, betrouwbare AI-technologie, effectief verminderen van algoritmefouten
* Programmeringstijd < 1 minuut, geen componentbibliotheek, om echt één-klik programmeren te bereiken
* 1 milliseconde algoritme inferentie, inferentie snelheid is sterk verbeterd, model algoritme is zeer geoptimaliseerd
* is niet afhankelijk van de apparaatbibliotheek, voltooit de intelligente detectie van het apparaat; en kan de apparaten identificeren die niet zijn opgenomen in CAD ((apparaatlocatiegegevens);
* door efficiënt leren van de globale kenmerken van apparaten en defecten, intelligente generatie van verschillende apparaten, verschillende detectiegebieden,verschillende soorten defecten van besluitindicatoren; .
* Normalisatie van meerdere complexe drempelwaarden voor de detectie van defecten in tolerantiedrempelwaarden zonder dat de details van het apparaat moeten worden beschreven en gedefinieerd;En door middel van de studie van statistische gegevens, worden de voorstellen voor een aanpassing van de kwantitatieve drempel gedaan.
Er is geen behoefte aan overmatige technische eisen aan het programmeringspersoneel en er kunnen te allen tijde vervangers aan het werk zijn.
Uw bericht moet tussen de 20-3.000 tekens bevatten!
